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Professional Field

透射電鏡、掃描電鏡、電子探針等電子光學儀器，質譜、核磁等分析儀器，測試檢查儀器，半導體設備，工業設備，醫療儀器等制造，銷售，研發及其附屬產品，零部件的加工委托，維修，技術服務，外圍儀器的采購和銷售。

透射電子顯微鏡TEM

制樣設備IS、CP

掃描電子顯微鏡SEM

多束系統SEM-FIB

電子探針顯微分析儀EPMA

質譜儀MS

核磁共振譜儀NMR

為什么選擇 JEOL ? 日本電子以電子顯微鏡起家，六十多年來日本電子在該領域不斷深耕細作，其產品在全球都有著很高的影響力。尤其是作為目前世界上的主要透射電鏡供應商之一，日本電子在以球差電鏡為代表的高分辨電鏡領域引領著技術發展的潮流... 查看詳情

TEM用語集是透射電子顯微分析方法的基本用語集，由日本東北大學名譽教授、日本電子技術顧問田中通義先生編修，涵蓋了透射電子顯微分析方法的理論、照射系、透鏡系、樣品室、檢測系、真空系、分光分析、結晶、制樣、及圖像處理等10個部分的用語解釋，約750條。

JEOL News學報是JEOL 學術性雜志（年刊），收錄各領域使用JEOL設備獲得高品質數據的優秀文章，在這里您能感受到很多JEOL 的新技術及其相關應用。

捷歐路定期為客戶提供專業設備培訓，邀請日本總部的資深專家現場傳授，請時刻關注我們的培訓更新，JEOL用心為您。

走進日本電子，發現這些高尖端的設備背后的他們、她們，聽他們訴說與這些儀器的故事。

本欄目持續整理并收錄JEOL各類產品如透射電鏡、掃描電鏡、核磁共振等的相關視頻，展示JEOL的新技術，是技術與藝術的融合盛宴，歡迎新老客戶關注。